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可視化晶體板內(nèi)部條紋檢測(cè)技術(shù)

發(fā)布時(shí)間:2022-08-22 點(diǎn)擊量:951

可視化晶體板內(nèi)部條紋檢測(cè)技術(shù)

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一種在監(jiān)視器上目視觀察光學(xué)元件光學(xué)不均勻性的裝置

該檢查裝置是一種可視化晶體板和玻璃等透明物體內(nèi)部的條紋,以及表面上的拋光不均勻和拋光痕跡的裝置。非常適合檢查低通濾光片和藍(lán)色濾光片的晶體板。

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在觀察到的圖像的背景中有一個(gè)微弱的斑點(diǎn)圖案。這是由于安裝的透鏡等光學(xué)元件的表面拋光,并干擾觀察。專(zhuān)用軟件“ClearBack"使背景清晰,便于檢查。在折射率變化的可視化裝置中有一種稱(chēng)為紋影法的觀察方法,但該裝置的觀察方法是陰影圖法。避免刀口干擾造成圖像模糊。

檢查方法shadowgraph 方法,顧名思義,就是一個(gè)“陰影圖片"。從點(diǎn)光源發(fā)出的光被一個(gè)鏡頭準(zhǔn)直,被下一個(gè)鏡頭會(huì)聚,然后被拍攝。這里,如果在兩個(gè)透鏡之間放置有條紋等缺陷的樣品,平行光會(huì)受到干擾,圖像會(huì)出現(xiàn)亮度不均勻的區(qū)域。
觀察范圍約φ45mm
光源高亮度藍(lán)色LED
測(cè)量波長(zhǎng)450-465nm
有效像素1080(H)×824(V)
調(diào)光功能音量調(diào)光
外形尺寸(本體)水平(標(biāo)準(zhǔn))W1030 x D160 x H205mm
垂直(可選)W380 x D455 x H1245mm
重量(身體)29公斤
憲法機(jī)身/PC/電纜
配件樣品架/機(jī)身蓋
選項(xiàng)立式支架(重量:10kg)
使用環(huán)境10 至 35 攝氏度 濕度 20 至 80%(非冷凝)
顯示器最大分辨率1920 x 1200(24 英寸寬)
操作系統(tǒng)視窗 10(64 位)
軟件專(zhuān)用軟件“ClearBack" 通過(guò)校正不均勻的圖像亮度,使背景均勻,便于檢查缺陷。